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SN74BCT8374ADWRE4
| Produttori: | Texas Instruments |
|---|---|
| Categoria di prodotto: | Logic - Specialty Logic |
| Scheda tecnica: | SN74BCT8374ADWRE4 |
| Descrizione: | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC |
| Stato RoHS: | Compatibile con RoHS |
| Attributo | Valore attributo |
|---|---|
| Produttore | Texas Instruments |
| Categoria di prodotto | Logic - Specialty Logic |
| Serie | 74BCT |
| Imballaggio | Tape & Reel (TR) |
| Tipo logico | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| Stato della parte | Obsolete |
| Tipo di montaggio | Surface Mount |
| Numero di bit | 8 |
| Pacchetto / Custodia | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| Tensione di alimentazione | 4.5V ~ 5.5V |
| Numero parte base | 74BCT8374 |
| Temperatura | 0°C ~ 70°C |
| Pacchetto dispositivi fornitore | 24-SOIC |
In magazzino 0 pcs
| Prezzo Refrence ($) | 1 pcs | 100 pcs | 500 pcs |
|---|---|---|---|
| $0.00 | $0.00 | $0.00 |
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